仪器生产商： 日本电子株式会

资产编号： S2000582

资产负责人： 姚路明

购置日期：2022-12-22

仪器产地：日本

仪器供应商：日本电子株式会

购买经办人：姚路明

主要配件：

主要参数：仪器主要技术参数 3.1电子光学系统 ▲3.1.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪； ▲3.1.2极靴类型：冷冻型极靴； ▲3.1.3加速电压范围：20-200kV，最高加速电压必须达到200kV，需提供预设200kV和80kV两个合轴数据； ▲3.1.4 1nm束斑电流：≥0.3nA@1.0nm； ▲3.1.5 物镜：球差系数 ≤2.7 mm； 3.2 分辨率 ▲3.2.1点分辨率：≤0.3nm@200kV； 3.2.2晶格分辨率：≤0.14nm@200kV； 3.2.3信息分辨率：≤0.18nm@200k

仪器介绍：日本电子透射电镜F-200（JEOL JEM-F200）是一款高性能的场发射透射电子显微镜（TEM），由日本电子株式会社（JEOL Ltd.）生产。该设备采用先进的冷场发射电子枪技术，能够提供高亮度、高稳定性的电子束，从而实现高分辨率的成像和分析。F-200具备出色的空间分辨率和能量分辨率，适用于材料科学、纳米技术、生物医学等领域的研究。 F-200配备了多种先进的功能模块，支持对样品的超微结构、病理特征、化学成分和电子态进行综合分析。其用户友好的操作界面和自动化功能使得实验过程更加高效便捷。平台安装的机型还特别选配了高反差极靴与适合于生物样品成像的EMSIS相机，同时增配高倾样品杆与相应的分析软件，使其特别适用于研究蛋白质结构、膜蛋白复合物以及病毒与蛋白质的三维结构，解析蛋白质定位、结构与功能之间的联系。 JEOL JEM-F200的卓越性能可支持生物学领域多样化实验需求，可为揭示生命科学的微观奥秘提供强有力的技术支持。

应用领域：主要用于蛋白质、囊泡与材料样品的超微结构观察。

管理规则：进入平台实验室需穿实验服，首次发现未穿实验服关停平台权限一周，二次发现未穿实验服关停平台权限一个月，三次发现未穿实验服关停一个月并需导师提供承诺书承诺后续再出现类似情况将永久关停账户方可重新开通。

实验规则：

培训指南：